Pubblicato il Ottobre 24, 2011 - ( views)
National Instruments Italy Srl
Milano, settembre 2011 - National Instruments si prepara a mettere in pista LabVIEW 2011 Tour, il seminario gratuito itinerante che partirà da Milano martedì 18 ottobre e terminerà a Bologna il 24 giovedì novembre, attraversando la penisola e fermandosi a Torino, Firenze, Roma, Napoli, Bari, Padova.
"LabVIEW 2011 Tour rappresenta un'occasione importante per conoscere l'ambiente di sviluppo grafi co di NI LabVIEW e per scoprire come il software di progettazione grafi ca sia in grado accelerare la produttività delle applicazione realizzate da tecnici e ingegneri in diversi settori applicativi", afferma Alessandro Plantamura, Technical Marketing Engineer di National Instruments. "Con LabVIEW Tour 2011 ci poniamo l'obiettivo di offrire ai partecipanti una panoramica delle ultime innovazioni tecnologiche rilasciate durante NIWeek 2011, la confernza globale sulla progettazione grafi ca di sistemi". Ad ogni tappa, i tecnici di Nationa Instruments coinvolgeranno i partecipanti in attività rivolte sia ai neofi ti che agli utenti avanzati. La sessione del mattino Scuola di LabVIEW si rivolge specifi catamente a chi desidera conoscere o rinfrescare le basi dell'ambiente, illustrandone elementi principali e funzionalità di base. Il pomeriggio, con la Formazione Avanzata, sarà possibile affi nare le proprie competenze ed essere più produttivi con LabVIEW.
Durante quest'edizione del Tour, i clienti più esperti avranno l'opportunità di certifi carsi CLAD (Certifi ed LabVIEW Associate Developer) durante il Tour nella data e sede dell'evento al prezzo di 50€ Iva inclusa invece di 125€ +Iva. Inoltre, per chi desiderasse continuare il proprio percorso formativo, sarà possibile partecipare a sessioni pratiche gratuite a distanza di qualche settimana nelle stesse sedi del Tour, oppure potrà frequentare i corsi di formazione di LabVIEW a prezzi davvero speciali.
Scopri tutti i dettagli dell'agenda e registrati online sulla pagina web italy.ni.com/labview-tour
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a nove slot con larghezza di banda di 1 GB/s
per la raccolta dei dati di campo
per gestire otto moduli di I/O
consente di effettuare misure ad alta velocità da sensori distribuiti
con funzioni di visione artificiale
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