NIDays 2010

Da oggi è possibile registrarsi sul sito www.nidays.it alla 17° edizione di NIDays, che quest’anno avrà luogo mercoledì 24 febbraio a Roma, presso l’Ergife Palace Hotel. La passata edizione si è confermata come la data italiana di maggior successo finora organizzata, registrando un record di presenze (oltre 500 visitatori). Anche quest’anno, però, l’evento di riferimento nella Progettazione Grafica di Sistemi per i settori controllo e automazione industriale, progettazione di sistemi embedded, misura, collaudo e meccatronica, promette numeri degni di nota grazie a contenuti innovativi. L’unica data italiana dell’evento organizzato da National Instruments sarà strutturata in modo da poter offrire occasioni di aggiornamento e approfondimento sia durante la Keynote della mattina, quest’anno capitanata da un ospite d’eccezione, Jeff Kodosky – co-fondatore di National Instruments e “padre” del software di progettazione grafica per sistemi NI LabVIEW - che durante le sedici conferenze tecniche pomeridiane e le sei prove pratiche, che consentiranno a tutti i presenti di testare le proprie conoscenze tecniche.   “In Italia NIDays si è ormai affermato a pieno titolo come l’Evento con la E maiuscola per tecnici e ingegneri interessati a scoprire in anteprima trend e tecnologie legate alla Progettazione Grafica di Sistemi“, dichiara Lino Fiore, Direttore Generale di National Instruments Italy. E tra le numerose anticipazioni di prodotto e anteprime tecnologiche citiamo la nuova versione del prodotto di punta di NI, LabVIEW 2009, il software di simulazione e test real-time Veristand, la piattaforma Wireless Sensor Network per applicazioni di controllo remoto e 16 nuovi dispositivi di acquisizione dati della Serie X per PCI Express e PXI Express.   La vasta area espositiva ospiterà sviluppatori, partner tecnologici e Alliance Partner di National Instruments, offrendo a tutti i partecipanti la possibilità di condividere successi e fare il punto sulle attuali problematiche legate agli ultimi sviluppi nella progettazione, automazione industriale, controllo, test e misura.