Test Contactor

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Specializzato nell'analisi sensoriale degli errori (FA)

Elettronica & Componenti Elettrici

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La gamma di prodotti Y-RED di Yamaichi Electronics si allarga. Oltre alla valutazione e alla convalida dei chip IC, l'attenzione si concentra ora sulle applicazioni per l'analisi degli errori e le misurazioni di laboratorio con bassa induttanza. Con decenni di esperienza nello sviluppo di test contactors custom e semi-custom, Y-RED combina tecnologia di alta qualità ed elementi standardizzati con una tecnologia di assemblaggio semplificata e di facile utilizzo. Come primo prodotto della nuova generazione Y-RED, è stato rilasciato alla fine del 2019 il Test Contactor standard con coperchio, adatto ad applicazioni di qualifica dei componenti. Seguiranno ora numerose espansioni di questa gamma.

La Y-RED failure analysis

Mentre la variante Y-RED già disponibile è utilizzata principalmente nella valutazione e validazione (EV) dei chip, il nuovo Test Contactor è specializzato nell'analisi sensoriale degli errori (FA). L'intero componente è ora visibile durante il test attraverso un'apertura nel coperchio. Una lastra di vetro inserita resistente ai graffi e alle crepe con una curva di trasmissione molto ampia, garantisce una distribuzione uniforme della pressione durante il contatto. Queste proprietà sono ideali per eseguire esami del chip con lenti a immersione solide e microscopia a emissione.

Ampia varietà di dimensioni

Per testare componenti con dimensioni comprese tra 1,5 mm x 1,5 mm e 5 mm x 5 mm, una versione più piccola è anche disponibile sia per Y-RED EV che per il nuovo Test Contactor FA. Il design notevolmente più compatto non solo consente di risparmiare spazio sulla evaluation board / PCB, ma la misurazione avviene anche più vicino al componente. La dimensione della griglia parte da 0,3 mm, l'intervallo di temperatura di applicazione è specificato da -40°C a +150°C. Per dimensioni superiori a 5 mm x 5 mm fino a un massimo di 12 mm x 12 mm, viene utilizzato form factor grande Y-RED. Come gli altri test contactor Y-RED, anche i più piccoli sono progettati per LGA, QFN e BGA / (WL) CSP.

Probe pin a bassa induttanza

È inoltre disponibile un pin a bassa induttanza per misurazioni di laboratorio con requisiti di induttanza particolarmente bassi. Questo può essere integrato in tutti i test contactor presentati, per cui le elevate prestazioni ottenibili possono essere portate in varie aree di applicazione e i vari vantaggi possono essere combinati in modo ottimale. Con un'altezza di contatto di soli 2,80 mm, si ottiene un'autoinduttanza inferiore a 0,80 nH. Viene implementata una dimensione della griglia compresa tra 0,3 mm e 0,5 mm. L'intervallo di temperatura di applicazione è compreso tra -40°C e +125°C.

Pubblicato il 13 Aprile 2021 - (32 views)
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