Test contactor

Permette un montaggio semplice e di facile utilizzo

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Yamaichi Electronics espande il portafoglio prodotti con la nuova serie Y-RED, che rappresenta un ulteriore sviluppo completamente rivisto dei Test Contactor per semiconduttori.

Specifiche tecniche

La nuova generazione Y-RED combina una tecnologia di alta qualità, elementi standardizzati e, come particolare punto di forza, un montaggio semplice e di facile utilizzo. Come primo prodotto della nuova generazione di Y-RED, il socket standard sarà disponibile per applicazioni di qualifica di componenti come HAST, HTOL o Burn-in. La dimensione della griglia parte da a 0,30 mm. L’intervallo di temperatura di applicazione è specificato da -40°C a 150°C. I socket Y-RED sono progettati per i package LGA, QFN e BGA, nonché (WL)CSP.

Nuovo modello di montaggio

Una parte di sviluppo fondamentale è la nuova tecnologia di montaggio della base, che è stata ripensata e semplificata per l'utente. Con i socket convenzionali la gestione dei circuiti stampati tramite l’attacco filettato, la rondella e il dado è a volte un po' complicata. La nuova generazione Y-RED introduce una cosiddetta piastra di montaggio con viti preassemblate. Se i fori di montaggio nel circuito stampato sono stati eseguiti con sufficiente precisione, questa piastra si blocca da sola o può essere facilmente pressata a mano. La base viene poi semplicemente avvitata dall'alto con dadi a manicotto. La piastra di montaggio viene utilizzata alla consegna come protezione per il trasporto e può essere utilizzata come rinforzo opzionale.

Ulteriori caratteristiche e applicazioni

Ulteriori caratteristiche sono la spinta a molla nel coperchio per compensare le tolleranze in altezza dei componenti e, naturalmente, l'esatta guida dei componenti nella base. L'elevato grado di standardizzazione delle parti fresate si riflette nei brevi tempi di progettazione e produzione. Per soddisfare le ulteriori esigenze del mercato, Yamaichi Electronics sta progettando ulteriori prodotti della nuova generazione Y-RED per applicazioni nell'analisi dei guasti, misure di laboratorio a bassa induttanza, HF/KOAX e Kelvin.